Microscope électronique à balayage JEOL

MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE JEOL / MEVB JSM-6010LV Plus

Utilisation : 
  - Observation à l'échelle micrométrique de la surface des matériaux solides inorganiques (non pulvérulents)
  - Caractérisation de la composition chimique par spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX)

Caractéristiques principales :
  - Grossissement théorique maximal : x300000 (x500000 dans la pratique)
  - Résolution théorique : 3.7 nm en électrons secondaires à 20 keV
  - Taille maximale de échantillons observables : 100 x 100 x 45 mm³
  - Détecteur d'électrons rétrodiffusés - BSE (3 modes d'observations possibles)
  - Mode Low Vacuum pour les échantillons faiblement conducteurs
  
Applications pratiques possibles : 
  - Observation des surfaces de rupture
  - Caractérisation de la microstructure
  - Composition chimique de précipités ou inclusions




Collaborations (industrielles, organismes publics impliquées…) / projet / thèse :
- Utilisation dans le cadre de projets Master et de thèses (partenariat avec l'Université du Sichuan CHINE)

 Financements : interne

Liens publications  :  
  - C. WANG, J. PETIT, Z. HUANG, D. WAGNER. Investigation of crack initiation mechanisms reponsible for the fish eye formation in the very high Cycle Fatiggue  regime. International Journal of Fatigue. 2019, 119 : 320 - 329
  - X. PU, J. PETIT, I. DABORD-RANC, D. WAGNER. Thermal response of iron and C-Mn steels with different ferrite/pearlite phase fraction under ultrasonic fatigue loading. Materals Science & Engineering A. 2019, 749 : 96 - 105.

Contact LEME : Johann PETIT (johannpetit[]parisnanterre.fr)