Microscope Électronique à Balayage (MEB)


Microscope électronique à balayage JEOL


Le LEME possède un Microscope Électronique à Balayage JEOL présentant les caractéristiques suivantes :

  • Colonne High Vacuum (pour les matériaux conducteurs) et colonne Low Vacuum (pour les matériaux isolants)

  • Détecteur d’électrons secondaires

  • Détecteur d’électrons rétrodiffusés

  • Détecteur de rayons X pour analyse EDX (détermination de la composition chimique)

Mis à jour le 28 juin 2019